Universitat Jaume I - UJI - Castello
Secció de Raigs X
Unitat de difracció de raigs X en pols
Tècnica
La difracció de raigs X és fonamentalment una tècnica de caracterització estructural de sòlids. Les longituds d'ona dels raigs X emprats són del mateix ordre que les distàncies interatòmiques dels cristalls, que actuen com a xarxes de difracció: difracten els raigs X en direccions i amb intensitats determinades. El senyal de difracció d'un sòlid és reflex de la seva estructura cristal·lina.
En les experiències de difracció, les mostres, normalment muntades en dispositius goniomètrics, s'analitzen en funció de la disposició dels cristalls respecte als feixos incident i difractat. Els dispositius experimentals són relativament senzills i el ventall d'aplicacions és molt ampli i divers.
Prestacions
- Estudis i caracterització de compostos cristal·lins, identificació de fases cristal·lines, anàlisi quantitativa de fases.
- Estudis de tensions en els compostos cristal·lins originats per deformacions de la xarxa dins del cristall.
- Estudi de transformacions de fase de compostos en funció de la temperatura, deshidratacions de mostres i les seves transicions de fase.
- Anàlisi d’orientacions preferents i grandària de cristallets de les estructures cristal·lines. Identificació de fases amorfes.
- Anàlisi de fases cristal·lines sensibles a les condicions atmosfèriques mitjançant el sistema d’anàlisi per capil·lar.
- Anàlisi de micromostres.
- Determinació i anàlisi de paràmetres estructurals mostres emprant radiació Kα1.
- Desenvolupament i estudi de nous compostos cristal·lins, colors ceràmics, dissolucions sòlides.
- Estudi i avaluació dels contingut inorgànic de l’aerosol atmosfèric.
- Estudi de plàstics en funció de la composició i tractaments mecànics.
Instrumentació
La unitat disposa de quatre difractòmetres de pols i d’utillatge per a la preparació de mostres, situats a l’Edifici d’Investigació del Campus del Riu Sec de la Universitat Jaume I.
Difractòmetre de pols D4 Endeavor, Bruker-AXS
Difractòmetre de geometria Bragg-Brentano theta/2theta, amb tub de raigs X de coure, monocromador de feix difractat i detector de centelleig. Carregador automàtic de fins a 66 mostres.
Difractòmetre de pols D5000D, Siemens
Difractòmetre de geometria Bragg-Brentano amb dos goniòmetres, tub de raigs X de coure, monocromador de feix difractat i detector de centelleig. Configuracions instalades:
- Cambra d’alta temperatura Büeler, amb capacitat per a mesures entre -190 i 1600ºC
- Dispositiu de mesura d’incidència rasant per anàlisi de capes fines amb espill Göebel per a l’obtenció de feix d’incidència de raigs X paral·lel.
Difractòmetre de pols D8 Advance, Bruker-AXS
Difractòmetre de geometria Bragg-Brentano theta/theta, amb tub de raigs X de coure, monocromador de feix difractat i detector de centelleig. Cambra de temperatura Anton Paar HTK 1200, amb capacitat per a mesures fins als 1200ºC.
Difractòmetre de pols D8 Advance, Bruker-AXS
Difractòmetre de geometria Bragg-Brentano theta/2theta, amb monocromador primari de Ge, tub de raigs X de coure i detector de centelleig. Accessori per a mostres en capil·lar, podent realitzar espectres de difracció amb molt petites quantitats de mostra o amb mostres sensibles a les condicions atmosfèriques.
Software
- Programa d’identificació de fases cristal·lines EVA, Bruker-AXS.
- Base de dades JCPDS del International Centre for Diffraction Data (versió PDF-2 actualitzada al 2003) per a la identificació de fases cristal·lines.
- Programa TOPAS de Bruker-AXS per anàlisi microestructural, indexacions, anàlisi quantitativa
Normativa Funcionament (PDF)
Coordinador científic Secció Raigs X
Dra. Rosa Llusar Barelles. Departament de Química Física i Analítica
Personal tècnic
Gabriel Peris Pérez
Adreça electrònica: gperis@sg.uji.es
Tel: +34 964 387340
Fax: +34 964 387309
Tarifes
- Usuaris interns (requereix autenticació) (PDF)
- Usuaris externs (PDF)
