Universitat Jaume I - UJI - Castello
Secció de Raigs X
Unitat de fluorescència de raigs X
Tècnica
La fluorescència de raigs X (FRX) és una tècnica espectroscòpica que fa servir l'emissió secundària o fluorescent de radiació X generada en excitar una mostra amb una font de radiació X.
La radiació X incident o primària expulsa electrons de capes interiors de l'àtom. Els electrons de capes més externes ocupen els llocs vacants, i l'excés energètic resultant d'aquesta transició es dissipa en forma de fotons, radiació X fluorescent o secundària, amb una longitud d'ona característica que depèn del gradient energètic entre els orbitals electrònics implicats, i una intensitat directament relacionada amb la concentració de l'element a la mostra.
Prestacions
La finalitat principal de la tècnica és l’anàlisi químic elemental, tant qualitativa com quantitativa, en mostres sòlides (per a elements entre el bor i el urani en concentracions des de ppm fins a percentatges) i líquides (per a elements entre el sodi i el urani en concentracions de l’ordre de ppm).
Anàlisi qualitativa: la FRX és una tècnica molt emprada per fer anàlisis qualitatives de mostres sòlides en base a l’espectre de raigs X. Es poden identificar els components presents en la mostra amb un pes atòmic superior o igual al del bor.
Anàlisi semiquantitativa: permet la quantificació aproximada de la concentració dels elements presents en qualsevol tipus de material mitjançant algoritmes basats en paràmetres fonamentals.
Anàlisi quantitativa: quantificació dels elements majoritaris i minoritaris (B al U) presents en la mostra mitjançant calibratge específic per a cada material. Es disposen de calibratges amb patrons de referència internacionals per a minerals argilosos, carbonats de calci i dolomies, quars, arenes feldespàtiques, feldespats de sodi, potassi i mixtes, alúmines, frites ceràmiques de diferents tipus, pigments ceràmics de base circon i diversos materials de síntesi inorgànica.
Instrumentació
La unitat disposa d’un espectrofotòmetre de fluorescència de raigs X i d’utillatge per a la preparació de mostres, situats a l’Edifici d’Investigació del Campus del Riu Sec de la Universitat Jaume I.
Espectròmetre seqüencial de raigs X per dispersió de longituds d'ona S4 Pioneer, Bruker
| Tub de raigs X: ànode de Rh, 4 kW (màxim: 60 kV).
Detectors: centelleig i proporcional de flux (Ar) Cristalls: LiF200, LiF220, Ge, PET, OVO55, TIAP, OVO B Paquet de software SPECTRA-PLUS: inclou programes d’avaluació d’espectres, construcció de corbes de calibratge i programes de control de l’espectròmetre. |
 |
Utillatge per a la preparació de mostres
|
 |
Normativa Funcionament (PDF)
Coordinador científic Secció Raigs X
Dra. Rosa Llusar Barelles. Departament de Química Física i Analítica
Personal tècnic
J. Javier Gómez Serrano
Adreça electrònica: gomezj@guest.uji.es
Tel: +34 964 387313
Fax: +34 964 387309
Tarifes
- Usuaris interns (requereix autenticació) (PDF)
- Usuaris externs (PDF)
